文献
J-GLOBAL ID:200902199246818579
整理番号:94A0416898
CADリンク電子ビームテストシステムによるLSI故障解析とそのコスト評価
Special Issue on LSI Failure Analysis. LSI Failure Analysis with CAD-Linked Electron Beam Test System and Its Cost Evaluation.
著者 (2件):
FUJIOKA H
(Osaka Univ., Suita-shi, JPN)
,
NAKAMAE K
(Osaka Univ., Suita-shi, JPN)
資料名:
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E77-C
号:
4
ページ:
535-545
発行年:
1994年04月
JST資料番号:
L1370A
ISSN:
0916-8524
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)