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文献
J-GLOBAL ID：200902199595205819
整理番号：99A0852533
ラマン分光法によるセラミックスのき裂周りの応力測定
Stress Measurement of Single Edge V-Notched Bend Sapphire by Raman Spectroscopy.
坂井田喜久
(シナジーセラミックス研)
,
白木原香織
(名城大 大学院)
,
田中啓介
(名古屋大 工)
資料名：
X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集
(Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 35th ページ： 80-85 発行年： 1999年09月02日
JST資料番号： F0605B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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