文献
J-GLOBAL ID:200902199739245888
整理番号:93A0196081
イオン衝撃された薄膜表面における自己相似フラクタル粗さの走査型トンネル顕微鏡観察
Scanning Tunneling Microscopy Observation of Self-Affine Fractal Roughness in Ion-Bombarded Film Surfaces.
著者 (4件):
KRIM J
(Katholieke Univ. Leuven, Leuven, BEL)
,
HEYVAERT I
(Katholieke Univ. Leuven, Leuven, BEL)
,
VAN HAESENDONCK C
(Katholieke Univ. Leuven, Leuven, BEL)
,
BRUYNSERAEDE Y
(Katholieke Univ. Leuven, Leuven, BEL)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
70
号:
1
ページ:
57-60
発行年:
1993年01月04日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)