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文献
J-GLOBAL ID：200902199902209037
整理番号：93A0933347
浅いトラップモデルを用いる823nmでのTa:KNbO3とBaTiO3の実効トラップ密度の決定
Determination of the effective trap density of Ta:KNbO3 and BaTiO3 at 823nm using the shallow trap model.
CLEMENT A E
(Naval Research Lab., Washington, D.C., USA)
,
GILBREATH G C
(Naval Research Lab., Washington, D.C., USA)
,
PETERSON S N
(Sachs-Freeman Assoc., Inc., MD, USA)
資料名：
Optics & Laser Technology
(Optics & Laser Technology)
巻： 25 号： 5 ページ： 299-303 発行年： 1993年10月
JST資料番号： D0245B ISSN： 0030-3992 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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