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文献
J-GLOBAL ID：200902200037862631
整理番号：06A0754655
65nm領域とそれ以後における高性能CMOSの可変性
High-performance CMOS variability in the 65-nm regime and beyond
BERNSTEIN K.
(IBM Res. Div., New York)
,
FRANK D. J.
(IBM Res. Div., New York)
,
GATTIKER A. E.
(IBM Res. Div., Texas)
,
HAENSCH W.
(IBM Res. Div., New York)
,
JI B. L.
(IBM Res. Div., New York)
,
NASSIF S. R.
(IBM Res. Div., Texas)
,
NOWAK E. J.
(IBM Systems and Technol. Group, Vermont)
,
PEARSON D. J.
(IBM Res. Div., New York)
,
ROHRER N. J.
(IBM Systems and Technol. Group, Vermont)
資料名：
IBM Journal of Research and Development
(IBM Journal of Research and Development)
巻： 50 号： 4/5 ページ： 433-449 発行年： 2006年07月
JST資料番号： D0061B ISSN： 0018-8646 CODEN： IBMJAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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