文献
J-GLOBAL ID:200902200892894710
整理番号:06A0784984
超薄膜のダイヤモンド様炭素膜の厚さの測定
Measuring the thickness of ultra-thin diamond-like carbon films
著者 (4件):
LEMOINE Patrick
(Nanotechnology Res. Inst., Univ. of Ulster, Newtownabbey, BT37OQB Co Antrim, Northern Ireland, GBR)
,
QUINN John Paul
(Nanotechnology Res. Inst., Univ. of Ulster, Newtownabbey, BT37OQB Co Antrim, Northern Ireland, GBR)
,
MAGUIRE P.d.
(Nanotechnology Res. Inst., Univ. of Ulster, Newtownabbey, BT37OQB Co Antrim, Northern Ireland, GBR)
,
MCLAUGHLIN J.a.d.
(Nanotechnology Res. Inst., Univ. of Ulster, Newtownabbey, BT37OQB Co Antrim, Northern Ireland, GBR)
資料名:
Carbon
(Carbon)
巻:
44
号:
13
ページ:
2617-2624
発行年:
2006年11月
JST資料番号:
H0270B
ISSN:
0008-6223
CODEN:
CRBNA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)