文献
J-GLOBAL ID:200902201009225614
整理番号:06A0510640
Si(111)基板上に作製した3C-SiCエピタキシャル膜の二重位置決め境界の削減
Reduction in double-positioning boundaries in 3C-SiC epitaxial films fabricated on Si (111) substrates
著者 (4件):
KUSUMORI Takeshi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Chubu 2266-98 Anagahora, Shimoshidami, Moriyama-ku ...)
,
MUTO Hachizo
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Chubu 2266-98 Anagahora, Shimoshidami, Moriyama-ku ...)
,
OKADA Masahisa
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Chubu 2266-98 Anagahora, Shimoshidami, Moriyama-ku ...)
,
JIN Ping
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Chubu 2266-98 Anagahora, Shimoshidami, Moriyama-ku ...)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
513
号:
1-2
ページ:
307-310
発行年:
2006年08月14日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)