文献
J-GLOBAL ID:200902201195508477
整理番号:07A0545854
水素化の際の多層薄膜系についての偏光解析法キャラクタリゼーション
Ellipsometric Characterization on Multi-Layered Thin Film Systems during Hydrogenation
著者 (3件):
SANTJOJO D. J.
(Universitas Brawijaya Malang, Jl. Veteran Malang, IDN)
,
AIZAWA Tatsuhiko
(Univ. Toronto, Ontario, CAN)
,
MURAISHI S.
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名:
Materials Transactions
(Materials Transactions)
巻:
48
号:
6
ページ:
1380-1386
発行年:
2007年06月01日
JST資料番号:
G0668A
ISSN:
1345-9678
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)