文献
J-GLOBAL ID:200902202961019986
整理番号:06A0805667
無鉛半田接合にけるエレクトロマイグレーション誘起延性から脆性転移
Electromigration induced ductile-to-brittle transition in lead-free solder joints
著者 (6件):
REN Fei
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, UCLA, Los Angeles, California 90095-1595)
,
NAH Jae-woong
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, UCLA, Los Angeles, California 90095-1595)
,
TU K. N.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, UCLA, Los Angeles, California 90095-1595)
,
XIONG Bingshou
(School of Mechanical and Aerospace Engineering, Nanyang Technological Univ., Singapore 639798, SGP)
,
XU Luhua
(School of Mechanical and Aerospace Engineering, Nanyang Technological Univ., Singapore 639798, SGP)
,
PANG John H. L.
(School of Mechanical and Aerospace Engineering, Nanyang Technological Univ., Singapore 639798, SGP)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
89
号:
14
ページ:
141914-141914-3
発行年:
2006年10月02日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)