文献
J-GLOBAL ID:200902203054886454
整理番号:05A0982673
2重標的同時レーザアブレーションによる広ギャップ半導体のその場正孔ドーピング GaNとSiCエピタキシャル膜
In situ hole doping of wide-gap semiconductors by dual-target simultaneous laser ablation: GaN and SiC epitaxial films
著者 (4件):
MUTO Hachizo
(Materials Res. Inst. for Sustainable Dev., National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST) Chubu ...)
,
ASANO Takashi
(Materials Res. Inst. for Sustainable Dev., National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST) Chubu ...)
,
WANG Rong-ping
(Materials Res. Inst. for Sustainable Dev., National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST) Chubu ...)
,
KUSUMORI Takeshi
(Materials Res. Inst. for Sustainable Dev., National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST) Chubu ...)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
87
号:
16
ページ:
162106-162106-3
発行年:
2005年10月17日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)