文献
J-GLOBAL ID:200902203638448289
整理番号:08A1062712
MOS酸化物の放射線効果
Radiation Effects in MOS Oxides
著者 (7件):
SCHWANK James R.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
SHANEYFELT Marty R.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
FLEETWOOD Daniel M.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
FELIX James A.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
DODD Paul E.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
PAILLET Philippe
(CEA-DIF, Bruyeres-le-Chatel, FRA)
,
FERLET-CAVROIS Veronique
(CEA-DIF, Bruyeres-le-Chatel, FRA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
55
号:
4,Pt.1
ページ:
1833-1853
発行年:
2008年08月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)