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文献
J-GLOBAL ID：200902203862785452
整理番号：05A0155184
X線光電子回折による高温でのZr-O/W(100)の表面構造分析
Surface structure analysis of Zr-O/W(100) at high temperature by x-ray photoelectron diffraction
TAMURA K
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
AMANO M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
CHU W-G
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KAWANO T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
NAGATOMI T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TAKAI Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
OSHIMA C
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
SHIMIZU R
(Osaka Inst. of Technol., Osaka, JPN)
,
NIHEI Y
(Sci. Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 37 号： 2 ページ： 217-220 発行年： 2005年02月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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