前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：200902204216533069
整理番号：07A0255489
自由ホイーリングダイオードにおける伝導率変調遅延時における電圧サージに対する自己絶縁高電圧集積回路の耐性
Robustness of Self-Isolation High-Voltage Integrated Circuits against the Voltage Surge during Conductivity Modulation Delay in Free-Wheeling Diode
YAMAZAKI Tomoyuki
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
YAMAZAKI Tomoyuki
(Univ. Yamanashi, Kofu, JPN)
,
KUMAGAI Naoki
(Fuji Electric Advanced Technol., Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
NISHIURA Akira
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
FUJIHIRA Tatsuhiko
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
MATSUMOTO Takashi
(Univ. Yamanashi, Kofu, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 46 号： 2 ページ： 569-571 発行年： 2007年02月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。