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J-GLOBAL ID：200902204684023833 整理番号：05A0773046

焦点を合わせたイオンビームミリングによる試料セル/鉱物界面のTEM(電子顕微鏡観察)の試料調整

TEM-specimen preparation of cell/mineral interfaces by Focused Ion Beam milling

著者 (4件)：

OBST Martin

(Swiss Federal Inst. for Environmental Sci. and Technol. (EAWAG), Kastanienbaum, CHE)

GASSER Philippe

(Swiss Federal Lab. Materials Testing and Res. (EMPA), Duebendorf, CHE)

MAVROCORDATOS Denis

(Swiss Federal Inst. for Environmental Sci. and Technol. (EAWAG), Duebendorf, CHE)

DITTRICH Maria

(Swiss Federal Inst. for Environmental Sci. and Technol. (EAWAG), Kastanienbaum, CHE)

資料名：

American Mineralogist (American Mineralogist)

巻： 90 号： 8/9 ページ： 1270-1277 発行年： 2005年08月
JST資料番号： A0384A ISSN： 0003-004X CODEN： AMMIAY 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：ドイツ (DEU) 言語：英語 (EN)

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