文献
J-GLOBAL ID:200902204826234608
整理番号:05A0828202
広範囲に移動可能な走査型トンネル顕微鏡と組合せた超高真空走査電子顕微鏡システム
Ultrahigh vacuum scanning electron microscope system combined with wide-movable scanning tunneling microscope
著者 (4件):
KANEKO A.
(NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN)
,
HOMMA Y.
(NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN)
,
HIBINO H.
(NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN)
,
OGINO T.
(NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
76
号:
8
ページ:
083709.1-083709.9
発行年:
2005年08月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)