文献
J-GLOBAL ID:200902204929181790
整理番号:03A0213082
点接触電流画像化原子間力顕微鏡 単一壁炭素ナノチューブ束のチューブ間接触抵抗の測定
Point-contact current-imaging atomic force microscopy: Measurement of contact resistance between single-walled carbon nanotubes in a bundle.
著者 (4件):
OTSUKA Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
NAITOH Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MATSUMOTO T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KAWAI T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
82
号:
12
ページ:
1944-1946
発行年:
2003年03月24日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)