文献
J-GLOBAL ID:200902205065046116
整理番号:06A0982218
熱イオン場放射モデリングを用いたダイヤモンドSchottky障壁ダイオードの漏れ電流のキャラクタリゼーション
Characterization of leakage current on diamond Schottky barrier diodes using thermionic-field emission modeling
著者 (5件):
UMEZAWA Hitoshi
(Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...)
,
TOKUDA Norio
(Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...)
,
OGURA Masahiko
(Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...)
,
RI Sung-gi
(Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...)
,
SHIKATA Shin-ichi
(Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...)
資料名:
Diamond and Related Materials
(Diamond and Related Materials)
巻:
15
号:
11-12
ページ:
1949-1953
発行年:
2006年11月
JST資料番号:
W0498A
ISSN:
0925-9635
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)