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文献
J-GLOBAL ID:200902206162148108   整理番号:08A0155209

金属-ゲルマニウム-金属光検出器(MGM-PD)へのドーパント偏析の応用とその暗電流抑制機構

Application of dopant segregation to metal-germanium-metal photodetectors and its dark current suppression mechanism
著者 (8件):
ZANG H.
(Inst. of Microelectronics, A*STAR, 11 Sci. Park Road, Singapore 117685 Singapore)
LEE S. J.
(Silicon Nano Devices Lab., ECE Dep., National Univ. of Singapore, Singapore 117576, SGP)
LOH W. Y.
(Inst. of Microelectronics, A*STAR, 11 Sci. Park Road, Singapore 117685 Singapore)
WANG J.
(Inst. of Microelectronics, A*STAR, 11 Sci. Park Road, Singapore 117685 Singapore)
YU M. B.
(Inst. of Microelectronics, A*STAR, 11 Sci. Park Road, Singapore 117685 Singapore)
LO G. Q.
(Inst. of Microelectronics, A*STAR, 11 Sci. Park Road, Singapore 117685 Singapore)
KWONG D. L.
(Inst. of Microelectronics, A*STAR, 11 Sci. Park Road, Singapore 117685 Singapore)
CHO B. J.
(Silicon Nano Devices Lab., ECE Dep., National Univ. of Singapore, Singapore 117576, SGP)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 92  号:ページ: 051110  発行年: 2008年02月04日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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