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文献
J-GLOBAL ID:200902207137765646   整理番号:08A0790737

リフレッシュ時間志向のダイナミックランダムアクセスメモリの設計のための捕獲準位のゆらぎによる統計的p-n接合の漏れの模型

Statistical p-n Junction Leakage Model via Trap Level Fluctuation for Refresh-Time-Oriented Dynamic Random Access Memory Design
著者 (5件):
KAMOHARA Shiro
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
KAMOHARA Shiro
(Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN)
KUBOTA Katsuhiko
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
MONIWA Masahiro
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
OKUMURA Tsugunori
(Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 47  号: 7 Issue 1  ページ: 5304-5308  発行年: 2008年07月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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