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文献
J-GLOBAL ID：200902207181208061
整理番号：09A0587830
偏光解析法を使用して液晶材の正規と特別屈率,液晶セルのセル厚みとプレチルト角を測定する非常に正確な方法
Highly Accurate Method for Measuring Ordinary and Extraordinary Refractive Indices of Liquid Crystal Materials, Cell Thickness, and Pretilt Angle of Liquid Crystal Cells Using Ellipsometry
OHNO Yuji
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
ISHINABE Takahiro
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
MIYASHITA Tetsuya
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
UCHIDA Tatsuo
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 48 号： 5,Issue 1 ページ： 051502.1-051502.9 発行年： 2009年05月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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