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文献
J-GLOBAL ID：200902208597037246
整理番号：09A1183614
透過型走査電子顕微鏡法を使用する軽元素のロバスト原子分解能イメージング
Robust atomic resolution imaging of light elements using scanning transmission electron microscopy
FINDLAY S. D.
(Inst. of Engineering Innovation, School of Engineering, Univ. of Tokyo, Tokyo 113-8656, JPN)
,
SHIBATA N.
(Inst. of Engineering Innovation, School of Engineering, Univ. of Tokyo, Tokyo 113-8656, JPN)
,
SAWADA H.
(JEOL Ltd., Tokyo 196-8558, JPN)
,
OKUNISHI E.
(JEOL Ltd., Tokyo 196-8558, JPN)
,
KONDO Y.
(JEOL Ltd., Tokyo 196-8558, JPN)
,
YAMAMOTO T.
(Inst. of Engineering Innovation, School of Engineering, Univ. of Tokyo, Tokyo 113-8656, JPN)
,
IKUHARA Y.
(Inst. of Engineering Innovation, School of Engineering, Univ. of Tokyo, Tokyo 113-8656, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 95 号： 19 ページ： 191913 発行年： 2009年11月09日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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