文献
J-GLOBAL ID:200902210507403642
整理番号:07A0622149
メモリー組み込み自己修復の経済的側面
Economic Aspects of Memory Built-in Self-Repair
著者 (3件):
HUANG Rei-Fu
(Media Tek)
,
CHEN Chao-Hsun
(National Tsing Hua Univ.)
,
WU Cheng-Wen
(National Tsing Hua Univ.)
資料名:
IEEE Design & Test of Computers
(IEEE Design & Test of Computers)
巻:
24
号:
2
ページ:
164-172
発行年:
2007年03月
JST資料番号:
B0007C
ISSN:
0740-7475
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)