文献
J-GLOBAL ID:200902210537628592
整理番号:05A0225074
偏光顕微鏡法を用いた分子層潤滑薄膜の厚みの測定
Measurement of Thickness of Molecularly Thin Lubricant Film Using Ellipsometric Microscopy
著者 (5件):
FUKUZAWA K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
SHIMUTA T
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
NAKADA A
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ZHANG H
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
MITSUYA Y
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻:
41
号:
2
ページ:
808-811
発行年:
2005年02月
JST資料番号:
A0339B
ISSN:
0018-9464
CODEN:
IEMGAQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)