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文献
J-GLOBAL ID：200902211166962989
整理番号：03A0264580
飛行時間型二次イオン質量分析法のためのC60一次イオンビームシステム 開発と二次イオン収率特性
A C60 Primary Ion Beam System for Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry. Its Development and Secondary Ion Yield Characteristics.
WEIBEL D
(UMIST, Manchester, GBR)
,
WONG S
(UMIST, Manchester, GBR)
,
LOCKYER N
(UMIST, Manchester, GBR)
,
BLENKINSOPP P
(Ionoptika Ltd., Southampton, GBR)
,
HILL R
(Ionoptika Ltd., Southampton, GBR)
,
VICKERMAN J C
(UMIST, Manchester, GBR)
資料名：
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻： 75 号： 7 ページ： 1754-1764 発行年： 2003年04月01日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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