文献
J-GLOBAL ID:200902211442110312
整理番号:06A0367963
Al2O3上のエピタキシャル成長GaN膜における層モードデバイス
Layer mode dvices on epitaxially grown GaN films on Al2O3
著者 (5件):
HOHKAWA K.
(Kanagawa Inst. Technol., Kanagawa, JPN)
,
KANESHIRO C.
(Kanagawa Inst. Technol., Kanagawa, JPN)
,
KOH K.
(Kanagawa Inst. Technol., Kanagawa, JPN)
,
NISHIMURA K.
(Nippon Tetelegraph & Telephone Co., Kanagawa, JPN)
,
SHIGEKAWA N.
(Nippon Tetelegraph & Telephone Co., Kanagawa, JPN)
資料名:
Proceedings. IEEE Ultrasonics Symposium
(Proceedings. IEEE Ultrasonics Symposium)
巻:
2005 Vol.3
ページ:
1600-1603
発行年:
2005年
JST資料番号:
A0437C
ISSN:
1051-0117
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)