文献
J-GLOBAL ID:200902211635862940
整理番号:03A0507016
デジタルマイクロエレクトロニクスにおけるシングルイベントアップセットの基本メカニズムとモデリング
Basic Mechanisms and Modeling of Single-Event Upset in Digital Microelectronics
著者 (2件):
DODD P E
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
MASSENGILL L W
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
50
号:
3,Pt.3
ページ:
583-602
発行年:
2003年06月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)