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文献
J-GLOBAL ID：200902212225405122
整理番号：06A0506632
オンチップ測定用の小型化薄膜磁場プローブの開発
Development of Miniaturized Thin-Film Magnetic Field Probes for On-Chip Measurement
ANDO N.
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
MASUDA N.
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
TAMAKI N.
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
KURIYAMA T.
(Kinki Univ., Wakayama, JPN)
,
SAITO M.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
SAITO S.
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
KATO K.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
OHASHI K.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
YAMAGUCHI M.
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
日本応用磁気学会誌
(Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 30 号： 4 ページ： 429-434 発行年： 2006年07月01日
JST資料番号： Z0944A ISSN： 0285-0192 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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