文献
J-GLOBAL ID:200902212271260848
整理番号:03A0528091
NbN超伝導単一フォトン検出器を用いた,非侵襲性CMOS回路テスト方法
Noninvasive CMOS circuit testing with NbN superconducting single-photon detectors
著者 (9件):
ZHANG J
(Univ. Rochester, NY, USA)
,
BOIADJIEVA N
(NPTest Inc., CA, USA)
,
CHULKOVA G
(Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS)
,
DESLANDES H
(NPTest Inc., CA, USA)
,
GOL’TSMAN G N
(Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS)
,
KORNEEV A
(Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS)
,
LEIBOWITZ M
(NPTest Inc., CA, USA)
,
PEARLMAN A
(Univ. Rochester, NY, USA)
,
SOBOLEWSKI R
(Univ. Rochester, NY, USA)
資料名:
Electronics Letters
(Electronics Letters)
巻:
39
号:
14
ページ:
1086-1088
発行年:
2003年07月10日
JST資料番号:
A0887A
ISSN:
0013-5194
CODEN:
ELLEAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)