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文献
J-GLOBAL ID：200902212292213696
整理番号：07A0593481
被覆処理伝導体応用のためのエピタキシャルYBa2Cu3O7-δにおける自己集合ナノドットおよびナノロッドから構成される柱状欠陥密度の関数としてのフラックスピン止め特性
Flux-pinning characteristics as a function of density of columnar defects comprised of self-assembled nanodots and nanorods in epitaxial YBa2Cu3O7-δ films for coated conductor applications
KANG S.
(Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
,
GOYAL A.
(Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
,
LI J.
(Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
,
MARTIN P.
(Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
,
IJADUOLA A.
(Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
,
THOMPSON J.r.
(Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
,
PARANTHAMAN M.
(Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
資料名：
Physica C. Superconductivity and Its Applications
(Physica C. Superconductivity and Its Applications)
巻： 457 号： 1-2 ページ： 41-46 発行年： 2007年06月15日
JST資料番号： T0580A ISSN： 0921-4534 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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