文献
J-GLOBAL ID:200902212401155707
整理番号:04A0534831
超小型SOI導波路の側壁粗さにより誘起される伝搬損失へのサイズの影響
Size Influence on the Propagation Loss Induced by Sidewall Roughness in Ultrasmall SOI Waveguides
著者 (5件):
GRILLOT F
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
,
VIVIEN L
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
,
LAVAL S
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
,
PASCAL D
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
,
CASSAN E
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
資料名:
IEEE Photonics Technology Letters
(IEEE Photonics Technology Letters)
巻:
16
号:
7
ページ:
1661-1663
発行年:
2004年07月
JST資料番号:
T0721A
ISSN:
1041-1135
CODEN:
IPTLEL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)