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文献
J-GLOBAL ID：200902212934545930
整理番号：09A0941361
すれすれ入射小角X線散乱による表面及び界面形態のプロービング
Probing surface and interface morphology with Grazing Incidence Small Angle X-Ray Scattering
RENAUD Gilles
(Commissariat a l’Energie Atomique, Inst. Nanosciences et Cryogenie, Serv. de Physique des Materiaux et ...)
,
LAZZARI Remi
(Inst. des NanoSciences de Paris, Univ. Pierre et Marie Curie (Paris 6), CNRS UMR 7588, Campus Boucicaut, 140 Rue de ...)
,
LEROY Frederic
(Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille, CNRS - UPR 3118, Campus de Luminy Case 913, 13288 Marseille ...)
資料名：
Surface Science Reports
(Surface Science Reports)
巻： 64 号： 8 ページ： 255-380 発行年： 2009年08月31日
JST資料番号： E0422B ISSN： 0167-5729 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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