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文献
J-GLOBAL ID：200902213572417994
整理番号：04A0441222
超高感度ナノ電気機械的質量検出
Ultrasensitive nanoelectromechanical mass detection
EKINCI K L
(California Inst. Technol., California)
,
HUANG X M H
(California Inst. Technol., California)
,
ROUKES M L
(California Inst. Technol., California)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 84 号： 22 ページ： 4469-4471 発行年： 2004年05月31日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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