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文献
J-GLOBAL ID：200902214513711168
整理番号：07A0857896
吸収性物質の複素EMパラメータの非破壊・広帯域測定のための同軸プローブ利用の2厚み法(TTM)の更なる研究
Further Study on Coaxial-Probe-Based Two-Thickness-Method for Nondestructive and Broadband Measurement of Complex EM-parameters of Absorbing Material
CHEN Chun-Ping
(Kanagawa Univ., Yokohama-shi, JPN)
,
CHEN Chun-Ping
(Shanghai Univ., Shanghai, CHN)
,
XU Deming
(Shanghai Univ., Shanghai, CHN)
,
MA Zhewang
(Saitama Univ., Saitama-shi, JPN)
,
ANADA Tetsuo
(Kanagawa Univ., Yokohama-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E90-C 号： 9 ページ： 1763-1769 発行年： 2007年09月01日
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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