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文献
J-GLOBAL ID:200902214687618612   整理番号:06A0058543

オングストローム以下のカンチレバー振幅を用いた原子間力顕微鏡法

Atomic Force Microscopy Utilizing SubAngstrom Cantilever Amplitudes
著者 (5件):
KAWAKATSU Hideki
(Instutute of Industrial Sci., Univ. of Tokyo, JPN)
KAWAI Shigeki
(Japan Sci. and Technol. Agency, JPN)
KOBAYASHI Dai
(Japan Sci. and Technol. Agency, JPN)
KITAMURA Shin-ichi
(JEOL Ltd., JPN)
MEGURO Sakae
(Neoark Corp., JPN)

資料名:
e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))

巻:ページ: 110-114 (J-STAGE)  発行年: 2006年 
JST資料番号: U0016A  ISSN: 1348-0391  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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