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文献
J-GLOBAL ID：200902214687618612
整理番号：06A0058543
オングストローム以下のカンチレバー振幅を用いた原子間力顕微鏡法
Atomic Force Microscopy Utilizing SubAngstrom Cantilever Amplitudes
KAWAKATSU Hideki
(Instutute of Industrial Sci., Univ. of Tokyo, JPN)
,
KAWAI Shigeki
(Japan Sci. and Technol. Agency, JPN)
,
KOBAYASHI Dai
(Japan Sci. and Technol. Agency, JPN)
,
KITAMURA Shin-ichi
(JEOL Ltd., JPN)
,
MEGURO Sakae
(Neoark Corp., JPN)
資料名：
e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)
(e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 4 ページ： 110-114 (J-STAGE) 発行年： 2006年
JST資料番号： U0016A ISSN： 1348-0391 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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