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文献
J-GLOBAL ID：200902214810244978
整理番号：05A0244161
X線波面解析および格子干渉計を用いた光学キャラクタリゼーション
X-ray wavefront analysis and optics characterization with a grating interferometer
WEITKAMP T
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
NOEHAMMER B
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
DIAZ A
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
DAVID C
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
ZIEGLER E
(European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 86 号： 5 ページ： 054101.1-054101.3 発行年： 2005年01月31日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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