文献
J-GLOBAL ID:200902215003053146
整理番号:08A0710532
リソグラフィーのMix and Matchオーバレイを最適化するためのシステム
A System to Optimize Mix and Match Overlay in Lithography
著者 (7件):
WAKAMOTO Shinji
(Nikon Corp., Saitama, JPN)
,
ISHII Yuuki
(Nikon Corp., Saitama, JPN)
,
YASUKAWA Koji
(Nikon Corp., Saitama, JPN)
,
MAEJIMA Shinroku
(Renesas Technol. Corp., Hyogo, JPN)
,
KATO Atsuhiko
(KLA-Tencor Japan Ltd. (Japan), Kanagawa, JPN)
,
ROBINSON John C.
(KLA-Tencor Corp., CA, USA)
,
CHOI Dong-Sub
(KLA-Tencor Korea Co., Ltd, Kunggi Prov, KOR)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
6922
号:
Pt.2
ページ:
69222V.1-69222V.11
発行年:
2008年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)