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文献
J-GLOBAL ID:200902215003053146   整理番号:08A0710532

リソグラフィーのMix and Matchオーバレイを最適化するためのシステム

A System to Optimize Mix and Match Overlay in Lithography
著者 (7件):
WAKAMOTO Shinji
(Nikon Corp., Saitama, JPN)
ISHII Yuuki
(Nikon Corp., Saitama, JPN)
YASUKAWA Koji
(Nikon Corp., Saitama, JPN)
MAEJIMA Shinroku
(Renesas Technol. Corp., Hyogo, JPN)
KATO Atsuhiko
(KLA-Tencor Japan Ltd. (Japan), Kanagawa, JPN)
ROBINSON John C.
(KLA-Tencor Corp., CA, USA)
CHOI Dong-Sub
(KLA-Tencor Korea Co., Ltd, Kunggi Prov, KOR)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 6922  号: Pt.2  ページ: 69222V.1-69222V.11  発行年: 2008年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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