文献
J-GLOBAL ID:200902215023591136
整理番号:09A0394273
AlGaN/GaN HEMTの電力性能に及ぼす誘電体厚みの影響
Effect of Dielectric Thickness on Power Performance of AlGaN/GaN HEMTs
著者 (6件):
PEI Yi
(Univ. California, CA, USA)
,
RAJAN Siddharth
(Univ. California, CA, USA)
,
HIGASHIWAKI Masataka
(Univ. California, CA, USA)
,
CHEN Zhen
(Univ. California, CA, USA)
,
DENBAARS Steven P.
(Univ. California, CA, USA)
,
MISHRA Umesh K.
(Univ. California, CA, USA)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
30
号:
4
ページ:
313-315
発行年:
2009年04月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)