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文献
J-GLOBAL ID：200902215989136699
整理番号：04A0899448
弾道電子放出顕微鏡をベースにしたホット電子回折実験の数値基礎
Numerical Foundation of Hot-Electron Diffraction Experiment Based on Ballistic Electron Emission Microscope
MACHIDA N
(Sci. and Engineering Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
KANOH H
(Sci. and Engineering Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
FURUYA K
(Sci. and Engineering Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 43 号： 11A ページ： 7390-7394 発行年： 2004年11月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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