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文献
J-GLOBAL ID：200902216094820060
整理番号：05A0522003
マイクロメータサイズ自立薄膜の引張試験法
A tensile-testing technique for micrometer-sized free-standing thin films
CHENG Yi-wen
(National Inst. of Standards and Technol., Boulder, CO 80305-3328, USA)
,
READ David T.
(National Inst. of Standards and Technol., Boulder, CO 80305-3328, USA)
,
MCCOLSKEY J. David
(National Inst. of Standards and Technol., Boulder, CO 80305-3328, USA)
,
WRIGHT Joyce E.
(National Inst. of Standards and Technol., Boulder, CO 80305-3328, USA)
資料名：
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻： 484 号： 1-2 ページ： 426-432 発行年： 2005年07月22日
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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