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文献
J-GLOBAL ID：200902217094505250
整理番号：03A0241170
Er:YAGレーザー歯牙照射後の接触プローブの電子プローブ微小分析
Electron Probe Micro-Analysis of a Contact Probe after Er:YAG Laser Tooth Ablation.
EGURO T
(Nippon Dental Univ., Tokyo, JPN)
,
MAEDA T
(Nippon Dental Univ. Dental Hospital, Tokyo, JPN)
,
OGAWA M
(Nippon Dental Univ., Tokyo, JPN)
,
YONEMOTO K
(Nippon Dental Univ., Tokyo, JPN)
,
TANAKA H
(Nippon Dental Univ., Tokyo, JPN)
,
KATSUUMI I
(Nippon Dental Univ., Tokyo, JPN)
資料名：
Dental Materials Journal
(Dental Materials Journal)
巻： 22 号： 1 ページ： 80-86 発行年： 2003年03月
JST資料番号： Y0283A ISSN： 0287-4547 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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