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文献
J-GLOBAL ID：200902217438230336
整理番号：06A1036378
量子点接触内における量子干渉パターンの画像化
Imaging of quantum interference patterns within a quantum point contact
DA CUNHA Carlo R.
(Dep. of Electrical Engineering, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, Rio Grande do Sul 90035-190 ...)
,
AOKI Nobuyuki
(Dep. of Electronics and Mechanical Engineering, Chiba Univ., 1-33 Yayoi-cho, Inage-ku, Chiba 263-8522, JPN)
,
MORIMOTO Takahiro
(Dep. of Electronics and Mechanical Engineering, Chiba Univ., 1-33 Yayoi-cho, Inage-ku, Chiba 263-8522, JPN)
,
OCHIAI Yuichi
(Dep. of Electronics and Mechanical Engineering, Chiba Univ., 1-33 Yayoi-cho, Inage-ku, Chiba 263-8522, JPN)
,
AKIS Richard
(Dep. of Electrical Engineering and Center for Solid State Electronics Res., Arizona State Univ., Tempe, Arizona ...)
,
FERRY David K.
(Dep. of Electrical Engineering and Center for Solid State Electronics Res., Arizona State Univ., Tempe, Arizona ...)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 89 号： 24 ページ： 242109-242109-3 発行年： 2006年12月11日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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