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文献
J-GLOBAL ID：200902217554532552
整理番号：04A0668993
高解像度磁区画像のための集束イオンビーム加工CoPt磁気力顕微鏡チップ
Focused Ion Beam Milled CoPt Magnetic Force Microscopy Tips for High Resolution Domain Images
GAO L
(Univ. Nebraska, NE, USA)
,
YUE L P
(Univ. Nebraska, NE, USA)
,
YOKOTA T
(Univ. Nebraska, NE, USA)
,
SKOMSKI R
(Univ. Nebraska, NE, USA)
,
LIOU S H
(Univ. Nebraska, NE, USA)
,
TAKAHOSHI H
(Akita Univ., Akita, JPN)
,
SAITO H
(Akita Univ., Akita, JPN)
,
ISHIO S
(Akita Univ., Akita, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 40 号： 4,Pt.2 ページ： 2194-2196 発行年： 2004年07月
JST資料番号： A0339B ISSN： 0018-9464 CODEN： IEMGAQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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