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J-GLOBAL ID：200902217761069625 整理番号：04A0690632

低K領域での疲れ亀裂成長挙動の原子間力顕微鏡観察

Atomic force microscopy of fatigue crack growth behavior in the low K region

著者 (4件)：

SUGETA A

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

UEMATSU Y

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

HASHIMOTO A

(Komatsu Ltd., Tokyo, JPN)

JONO M

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

資料名：

International Journal of Fatigue (International Journal of Fatigue)

巻： 26 号： 11 ページ： 1159-1168 発行年： 2004年11月
JST資料番号： D0802B ISSN： 0142-1123 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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