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文献
J-GLOBAL ID：200902217847103346
整理番号：07A1160072
II-VI希薄酸化物半導体合金エピレイアーのX線吸収・回折研究
X-ray absorption and diffraction study of II-VI dilute oxide semiconductor alloy epilayers
BOSCHERINI F
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
MALVESTUTO M
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
CIATTO G
(European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
,
D’ACAPITO F
(OGG-INFM-CNR, Grenoble, FRA)
,
BISOGNIN G
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
DE SALVADOR D
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
BERTI M
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
FELICI M
(Univ. Rome ‘La Sapienza’, Rome, ITA)
,
POLIMENI A
(Univ. Rome ‘La Sapienza’, Rome, ITA)
,
NABETANI Y
(Univ. Yamanashi, Kofu, JPN)
資料名：
Journal of Physics. Condensed Matter
(Journal of Physics. Condensed Matter)
巻： 19 号： 44 ページ： 446201,1-12 発行年： 2007年11月07日
JST資料番号： B0914B ISSN： 0953-8984 CODEN： JCOMEL 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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