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文献
J-GLOBAL ID：200902218085411230
整理番号：07A0775080
T=5Kでスピードアップした放射性崩壊 C60に閉じ込めた7Beの電子捕獲崩壊率
Radioactive Decay Speedup at T=5K: Electron-Capture Decay Rate of 7Be Encapsulated in C60
OHTSUKI T.
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
OHNO K.
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
,
MORISATO T.
(Accelrys K.K., Tokyo, JPN)
,
MITSUGASHIRA T.
(Tohoku Univ., Ibaraki, JPN)
,
HIROSE K.
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
YUKI H.
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KASAGI J.
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 98 号： 25 ページ： 252501.1-252501.4 発行年： 2007年06月22日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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