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文献
J-GLOBAL ID：200902218338801944
整理番号：03A0532453
CMOSアナログイメージセンサへの電子線およびガンマ線照射の影響
Effects of electron and gamma-ray irradiation on CMOS analog image sensors
MENG X-T
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
KANG A-G
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
LI J-H
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
ZHANG H-Y
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
YU S-J
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
YOU Z
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 43 号： 7 ページ： 1151-1155 発行年： 2003年07月
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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