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文献
J-GLOBAL ID：200902218722809570
整理番号：05A0423961
二次元Siマルチドットを通過する単一正孔の輸送における電流変動
Current fluctuation in single-hole transport through a two-dimensional Si multidot
NURYADI Ratno
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
IKEDA Hiroya
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
ISHIKAWA Yasuhiko
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
TABE Michiharu
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 86 号： 13 ページ： 133106.1-133106.3 発行年： 2005年03月28日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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