文献
J-GLOBAL ID:200902219243563244
整理番号:09A0599521
ラインエッジ粗さを有するグラフェンナノリボントンネルトランジスタの統計的試料の性能分析
Performance analysis of statistical samples of graphene nanoribbon tunneling transistors with line edge roughness
著者 (2件):
LUISIER Mathieu
(Network for Computational Nanotechnology and Birck Nanotechnology Center, Purdue Univ., 465 Northwestern Ave, West ...)
,
KLIMECK Gerhard
(Network for Computational Nanotechnology and Birck Nanotechnology Center, Purdue Univ., 465 Northwestern Ave, West ...)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
94
号:
22
ページ:
223505
発行年:
2009年06月01日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)