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文献
J-GLOBAL ID：200902219342511515
整理番号：05A0244165
検査へ応用するためのコンパクトな連続波サブテラヘルツシステム
Compact continuous-wave subterahertz system for inspection applications
KARPOWICZ N
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
,
ZHONG H
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
,
ZHANG C
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
,
LIN K-I
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
,
HWANG J-S
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
,
XU J
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
,
ZHANG X-C
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 86 号： 5 ページ： 054105.1-054105.3 発行年： 2005年01月31日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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