文献
J-GLOBAL ID:200902219539650010
整理番号:04A0309119
ウルツ鉱型GaNおよびZnOエピタキシャル層におけるX線多重回折(遠回り励起)
X-ray multiple diffraction (Umweganregung) in wurtzite-type GaN and ZnO epitaxial layers
著者 (2件):
BLAESING J
(Otto-von-Guericke-Univ. Magdeburg, Magdeburg, DEU)
,
KROST A
(Otto-von-Guericke-Univ. Magdeburg, Magdeburg, DEU)
資料名:
Physica Status Solidi. A. Applied Research
(Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻:
201
号:
4
ページ:
R17-R20
発行年:
2004年03月
JST資料番号:
D0774A
ISSN:
0031-8965
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)